半导体窄线宽激光器温循测试系统及其测试方法

本发明公开了一种半导体窄线宽激光器温循测试系统及其测试方法，它属于激光通信领域，其通过光功率标校补偿系数，消除系统损耗对光功率测量所引入的误差；变温调节可控，高效调谐激光器波长并测量各项指标。它主要包括包括若干驱动器和高低温试验箱，所述高低温试验箱内部安放若干被测激光器的待测激光器部分，被测激光器的其余部件位于高低温试验箱外，以避免设备温漂对测量造成影响；若干驱动器分别对应连接若干被测激光器，为被测激光器提供光芯片驱动电流和TEC闭环温度控制，并通过TEC闭环控温系统实现激光器的波长调谐，高低温试验箱内的被测激光器处均设有温度传感器。本发明主要用于半导体窄线宽激光器温循测试系统。