高速光模块中电输入输出性能测量方法及装置

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高速光模块中电输入输出性能测量方法及装置
申请号:CN202511059749
申请日期:2025-07-30
公开号:CN120768453A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种高速光模块中电输入输出性能测量方法及装置,装置中,光模块金手指接口模块通过金手指与组装成品前待测高速光模块的多组P/N极连接;电开关芯片与金手指接口连接;控制器通过电开关芯片控制多组P/N极的通断;网分测试设备具体在工控机的测试控制信号下,每次控制不同频率的电信号输出给待测高速光模块的一组P/N极,再通过该组P/N极获取待测高速光模块产生的回损电信号,生成频率‑回损电信号的图谱并发送给工控机;工控机将频率‑回损电信号的图谱与待测高速光模块的通道对应,根据预设回波损耗条件判断待测高速光模块是否合格。本发明在组装成光模块成品前就可以筛选出光模块的不良品。
技术关键词
高速光模块 金手指接口 光模块金手指 性能测量方法 工控机 测试设备 电信号 电开关 接口模块 控制器 回波 图谱 控制板 频率 芯片 损耗 出光模块 成品
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