一种基于图像处理的光学薄膜质量检测方法

本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种基于图像处理的光学薄膜质量检测方法，包括以下步骤：S101、获取动态应力场中的光学薄膜的瞬态光场图像序列；S102、对每个像素点的亮度时间序列进行频谱分析，提取主频分量作为亮度振荡周期，采用傅里叶变换算法处理时域波动数据，基于图像序列中每个像素点的亮度振荡周期，计算局部光程差变化量；S103、将相位畸变场投影至预设的薄膜弹性模量分布模型，建立相位畸变‑应力分布‑缺陷的映射关系，识别模量突变区域。本发明通过机械振动和热辐射协同作用生成动态应力场，能够在微缺陷处产生显著的应力集中，使微缺陷的形变差异被放大，从而提高缺陷检测的灵敏度。