一种基于混合式检测策略的导电粒子检测方法

本发明涉及图像处理和智能检测技术领域，具体公开了一种基于混合式检测策略的导电粒子检测方法，所述方法融合了基于规则的传统图像处理方法与基于深度学习的智能检测算法，采用双模式切换机制，实现在不同生产阶段的高精度、高效率导电粒子检测。其中特别提出通过深度学习检测模型引导传统检测算法的参数配置机制，建立从深度模型内部特征与预测结果到传统配置参数的映射关系，实现新型号面板导入时检测算法所需配置参数的快速适配与自动化部署。该方法兼顾稳定性与灵活性，适用于半导体面板生产线的导电粒子智能检测场景。