一种磁瓦表面微小线性缺陷的定性检测方法、设备及介质

本发明公开了一种磁瓦表面微小线性缺陷的定性检测方法、设备及介质，涉及磁性材料无损检测技术领域。通过光源方位角动态调节凸显不同走向缺陷的散射特性，构建包含低角度线性光源与高分辨率偏振相机的多向照明成像系统；这中间除了光源外，摄像头通过步进电机沿轴向移动，动态采集图像；设计基于方向梯度直方图增强的预处理算法，结合深度卷积神经网络对缺陷区域进行多尺度特征融合分析；开发基于迁移学习的轻量化分类模型，实现微裂纹与伪缺陷的精准区分。配套设备集成光源控制模块、图像采集单元及嵌入式处理平台，支持实时动态检测。本发明突破了传统机器视觉对亚毫米级线性缺陷的检测极限，漏检率降低至0.5%以下。