一种电路板光谱信号分选方法及系统

本发明涉及电路板抗震性能设计技术领域，具体而言，涉及一种电路板光谱信号分选方法及系统，本发明所述的电路板光谱信号分选方法通过光谱信号智能分选实现了电路板抗震性能的优化，具体方式为：利用激光扫描光谱图样的高度表征能力分析每个关键元器件区域的光谱子图计算关键元器件的偏移参数，并基于关键元器件的装配参数和偏移参数综合评估关键元器件在不同装配参数下的抗震指数，进而得到最优装配参数，本方法基于同一器件多组实验的抗震指数，自动分选出最优装配参数组合，指导设计迭代。