晶圆三维模型电路连通性测试方法、设备、介质及程序产品

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推荐专利
晶圆三维模型电路连通性测试方法、设备、介质及程序产品
申请号:CN202511242892
申请日期:2025-09-02
公开号:CN120722172B
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种晶圆三维模型电路连通性测试方法、设备、介质及程序产品,晶圆三维模型包括多个结构单元,方法包括:建立材料属性映射表,记录导电属性信息;基于材料属性映射表,识别各结构单元的构成材料并添加反映导电属性的标签;设置至少两个虚拟探针,分别与晶圆三维模型的不同结构单元建立接触关系;从虚拟探针中选定一个作为起始探针,以起始探针所在的结构单元为起点,按照导电路径传播获取虚拟探针之间连通性状态的测试结果,并与设计预期进行比较,以确定晶圆三维模型是否满足电路连通性要求。本发明通过建立材料导电属性映射、虚拟探针布设与连通性判断机制,能够在晶圆制造前实现对晶圆三维模型电路连通性的准确检测。
技术关键词
连通性测试方法 结构单元 探针 导电路径 晶圆 计算机程序指令 三维模型结构 读取工艺 关系 标记 键值 缺陷分析 标签 计算机程序产品 处理器 圆柱体结构 节点
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