一种用于检测DFB激光器芯片端面反射率的系统及方法

本发明提供了一种用于检测DFB激光器芯片端面反射率的系统及方法，所述系统包括：光源部分，采用宽带激光器作为检测光源，光学调节部分，依次包括光纤准直器，半波片、偏振分光棱镜和四分之一波片，以及扩束透镜组，四分之一波片则用于将入射光转变为圆偏振光，圆偏振光经过扩束透镜组照射到DFB激光器芯片的端面上，再经DFB激光器芯片反射后转换为特定偏振光，以便被光功率计准确测量。本发明能够实现DFB激光器芯片端面反射率的快速、精确测量。