芯片绕线方案测试的版图生成方法、装置、设备及介质

本申请提供了一种芯片绕线方案测试的版图生成方法、装置、设备及介质，包括：获取芯片设计过程中的绕线区域、待测试绕线方案的总数量以及测试区域宽度；若绕线区域的数量为一个，确定出绕线区域的中心折线，基于测试区域所容纳的单组的待测试绕线方案的数量以及测试区域宽度在初始测试版图上对中心折线进行区域扩展处理，生成初始测试区域；基于总数量在初始测试版图上对初始测试区域进行复制处理以及平移处理生成多个相同的初始测试区域，基于初始测试版图上的多个相同的初始测试区域整合出目标测试版图。通过中心线扩展和区域平移复制的方式，使得多个绕线方案可以在同一个测试版图中同时测试，从而显著提升了测试效率与资源利用率。