一种芯片设计数据的智能优化存储方法

本发明属于优化存储的技术领域，具体涉及一种芯片设计数据的智能优化存储方法，以解决现有技术压缩率有限、对随机图像缺乏分解的技术问题。存储方法包括以下步骤：S1，融合拓扑‑频谱指纹向量；识别出高密度聚类并选取主几何基元；S2，对于派生实例，计算从主几何基元到派生实例的变换参数；S3，对既非主几何基元也非派生实例的剩余多边形；S4，将主几何基元的定义数据、派生实例的变换参数以及剖分基元的数据进行压缩存储，共同构成压缩后的芯片设计数据。实现了对整体数据的深度压缩，获得了更高的压缩率，降低了芯片设计数据的存储与传输开销。