摘要
本发明涉及半导体器件封装技术领域,具体是一种新型集成电路功率器件,包括有芯片,所述芯片的背部设置有多层金属结构,所述芯片和多层金属结构均设置在金属框架的上端。本发明采用扩散焊接的方式代替了传统焊料焊接,能在较低温度下实现芯片与金属框架之间的固定,显著降低了热应力,减少了芯片裂纹和焊层剥离的风险,从而提升了整个封装结构的长期可靠性和热循环稳定性。
技术关键词
新型集成电路
多层金属结构
功率器件
金属框架
半导体器件封装技术
芯片
焊料
封装结构
热循环
合金
裂纹
风险
系统为您推荐了相关专利信息
开关电路
功率板
混合开关
栅极驱动芯片
MOSFET驱动电路
功率开关器件
车载充电机电路
变换器
状态控制电路
宽禁带功率器件
输出电压误差
PID控制参数
DC‑DC变换器
PID控制算法
动态