一种半导体芯片光刻胶剥离液及其制备方法与应用

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一种半导体芯片光刻胶剥离液及其制备方法与应用
申请号:CN202410752992
申请日期:2024-06-12
公开号:CN118502207A
公开日期:2024-08-16
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种半导体芯片光刻胶剥离液的制备方法与应用。所述的半导体芯片光刻胶剥离液,按照重量份计算,包括如下组分:复合功能剂1‑10份;有机溶剂60‑90份;有机胺碱1‑20份;金属保护剂0.1‑2.5份,其中,所述的复合功能剂包括羟基酰胺类化合物和氨基苯甲酸类化合物。本发明剥离液使用复合功能剂,增加了其润湿性、去胶效果稳定等多种优良性能,且对芯片表面温和无腐蚀。采用的有机胺碱,不仅保持碱性条件下提高去胶性能,而且能有效吸附芯片上附着的光刻胶残留物、光刻图案污染物,使其稳定可溶,能够从芯片上完全清洗去除。本发明剥离液对芯片清洗工艺无特殊要求,无需其他辅助措施工艺配合,即能保持去胶效果,且不会引起不必要的芯片损伤。
技术关键词
光刻胶剥离液 半导体芯片 羟基酰胺类化合物 苯甲酸类化合物 二乙二醇二乙醚 金属保护剂 芯片清洗工艺 叔丁氧羰基氨基 光刻胶残留物 二丙二醇二甲醚 二元醇 乙酰胺 二氨基苯甲酸 去胶方法 异丁酰胺 光刻图案
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