一种集成半导体晶体管的工作状态监测与分析方法及系统

本发明涉及半导体器件技术领域，特别是一种集成半导体晶体管的工作状态监测与分析方法及系统。获取云平台上所有的实时工作参数，对所述实时工作参数进行分类处理，以分类得到目标集成半导体晶体管在预设工作时间段中各种类型的实时工作参数；将各种类型的实时工作参数与相应的标准工作参数进行比较分析，分析得到目标集成半导体晶体管的工作状态；若目标集成半导体晶体管的工作状态为异常状态，则根据目标集成半导体晶体管的异常工作参数分析出可疑元器件；对可疑元器件进行故障分析，判断可疑元器件是否发生了故障，若发生了故障，则获取故障元器件的故障类型。能够优化系统性能，延长设备寿命，并降低维护成本。