对样品中存在的物质进行量化

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推荐专利
对样品中存在的物质进行量化
申请号:CN202410847023
申请日期:2024-06-27
公开号:CN119224101A
公开日期:2024-12-31
类型:发明专利
摘要
由第一分离器在时间参数上将样品分离成组成分析物。通过质谱仪分析组成分析物,该质谱仪提供针对每种组成分析物的质荷比的强度测量结果。对于每种组成分析物,在质荷比处的测量强度与时间参数的关系定义了相应峰值。可以为峰值中的每个峰值确定峰值品质因子和/或可以为峰值中的至少一些峰值确定关于时间参数的共同峰值位置。用于对物质进行量化的时间参数的特定范围可以基于一个峰值品质因子(或多个峰值品质因子)。另选地,基于所确定的峰值品质因子和/或所确定的共同峰值位置来选择峰值的子集以用于对物质进行量化。
技术关键词
质谱分析系统 质谱仪 参数 因子 色谱分离器 离子 强度 控制器 混合物 关系 液相 气相 处理器 算法 定义 数据
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