一种半导体激光芯片的腔面钝化方法

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一种半导体激光芯片的腔面钝化方法
申请号:CN202410874718
申请日期:2024-07-02
公开号:CN118487106B
公开日期:2024-12-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种半导体激光芯片的腔面钝化方法,通过选择不同材料的前腔面钝化膜、后腔面钝化膜,并选择不同的工艺腔室、工艺条件生长前腔面钝化膜、后腔面钝化膜,既可以满足前腔面钝化膜带隙宽、吸收系数小、耐高温、与衬底附着性好,以及光线从前腔面钝化膜行进至前腔面光学膜界面损耗小、在高功率光出射时前腔面钝化膜结构稳定不被光分解的要求,也可以满足后腔面钝化膜热传导性高、应力小与后腔面光学膜应力匹配性好的要求。
技术关键词
半导体激光芯片 钝化方法 离子源 电子束 钝化膜结构 氧化铪 光学膜 氮化硅薄膜 气体流量计 工艺腔室 镀膜设备 光学薄膜 真空度 金属铝 高功率 氧化硅 热传导 应力
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