基于机器学习的缺陷检测方法、装置和电子设备

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基于机器学习的缺陷检测方法、装置和电子设备
申请号:CN202410875362
申请日期:2024-07-02
公开号:CN118822979A
公开日期:2024-10-22
类型:发明专利
摘要
本发明提供的基于机器学习的缺陷检测方法、装置和电子设备,涉及机器学习领域;方法包括:获取工业产品表面正常图像和表面缺陷图像并进行预处理,获得工业产品表面图像数据集;其中,预处理过程为根据目标方形模板对获取图像进行图像修整,包括图像裁剪和补黑像素;根据表面图像数据集,训练基于机器学习的缺陷检测模型,该模型为卷积神经网络模型,其架构包括卷积层、激活函数以及多个池化层;接收实时拍摄的工业产品表面图像并进行预处理,获得待检测表面图像;将待检测表面图像输入基于机器学习的缺陷检测模型,输出缺陷检测结果。本发明通过对工业产品样本数据进行有限扩充,同时采用像素尺寸限定的方式提升模型检测准确度。
技术关键词
工业产品表面缺陷 缺陷检测方法 表面图像数据 图像滤波算法 模板框 卷积神经网络模型 缺陷检测装置 像素 工业产品图像 方形 光照 电子设备 表面缺陷图像 尺寸 产品样本 可读存储介质
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