摘要
本发明公开了一种基于图像处理算法的电子元件定位方法及系统,涉及图像处理技术领域,该基于图像处理算法的电子元件定位方法包括以下步骤:采集电路板图像,并对电路板图像中的高对比度区域进行局部增强处理,得到局部增强后的优化电路板图像;分割优化电路板图像得到局部图像,并在每个分割后的局部图像中提取电子元件的边界特征;构建分类模型对电子元件的边界特征进行分类;提取电子元件的边界特征上的特征点转换生成电子元件坐标。本发明通过精细的形态学分析识别出不同形状和大小的电子元件,同时对小构件边界特征进行形态学膨胀处理,进而有效增强小型电子元件的边界特征,确保小型电子元件在图像中的可识别性。
技术关键词
边界特征
图像处理算法
定位方法
电路板
梯度直方图
构建分类模型
膨胀算法
特征点
小型电子元件
迁移学习技术
空间拓扑关系
图像增强模块
形态学特征
特征提取模块
图像编辑技术
坐标
网络结构
宽动态
系统为您推荐了相关专利信息
协方差矩阵
方位角
定位系统
数据输入模块
特征工程
重建系统
子模块
节点分布密度
三维结构
三维点云数据
全局定位方法
描述符
关键点
三元组
语义分割网络