一种增强微凸点可靠性的封装结构及其制备方法

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一种增强微凸点可靠性的封装结构及其制备方法
申请号:CN202410898595
申请日期:2024-07-05
公开号:CN118431159B
公开日期:2024-09-10
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种增强微凸点可靠性的封装结构及其制备方法,步骤为在第一基板的上板面间隔开设多个凹槽;在凹槽底部开设第一通孔;在第一基板的上板面固接第二基板,在第二基板上打孔,形成第二通孔,采用纳米金属膏体填充各第二通孔、凹槽和第一通孔,第二基板上印刷纳米金属膏体,在第二通孔、凹槽和第一通孔内形成十字型连接柱,在第二基板上形成第一金属层,刻蚀,获得第一金属层;在各第一金属层的两侧放置铜柱,使得各铜柱与对应的第一金属层连接于一体,各第一金属层和两铜柱围设成U型槽;在芯片的底面制备微凸块,将芯片与U型槽装配,在第二基板上制备绝缘层,在第一基板的下板面制备覆盖各第一通孔的第二金属层,获得可靠性高的封装结构。
技术关键词
封装结构 基板 纳米金属颗粒 通孔 板面 有机载体 凹槽 U型槽 铜铟合金 银钯合金 上印刷 芯片封装 表面活性剂 镍合金 压力 环氧树脂 垫板 钛合金
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