测量方法、系统、电子设备及存储介质

AITNT
正文
推荐专利
测量方法、系统、电子设备及存储介质
申请号:CN202410901849
申请日期:2024-07-05
公开号:CN118442945B
公开日期:2024-09-03
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种测量方法、系统、电子设备及存储介质,所述方法应用于电子设备,所述电子设备分别与跟踪设备和扫描设备通信连接,所述方法包括:基于所述跟踪设备拍摄被测对象对应的图像集合,确定所述被测对象的基准坐标系下的多个框架点,所述多个框架点为所述被测对象表面的标志点;基于所述多个框架点,将基于所述扫描设备得到的多帧扫描数据转换至所述基准坐标系;基于所述跟踪设备确定的所述扫描设备的位姿与移动速度,得到每一帧所述基准坐标系下的扫描数据的权重;基于所述权重融合所述基准坐标系下的多帧扫描数据,生成点云融合数据。上述方法能够提高大尺寸物体的测量精度。
技术关键词
跟踪设备 扫描设备 坐标系 测量方法 平差优化算法 基准 电子设备 相机拍摄参数 数据 框架 点云 对象 图像 非线性优化方法 大尺寸物体 关系 可读存储介质 处理器 光束
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种动态环境下的惯导精准测量方法、设备和存储介质
惯性传感器数据 精准测量方法 加速度 误差修正模型 滑动滤波
2
用于轮毂表面缺陷检测的拍照视点规划方法
视点规划方法 表面缺陷检测 三角面片模型 轮毂 坐标系
3
基于多无人机协同的分布式目标探测融合系统及方法
多无人机协同 融合方法 坐标系 滤波 时间配准方法
4
机械臂控制方法、装置、设备及存储介质
机械臂控制方法 关节 视觉传感器 轨迹 规划
5
路径规划方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
路径规划方法 坐标系 障碍物 计算机可执行指令 对象
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号