一种转动式芯片测试设备

本发明涉及一种转动式芯片测试设备，主体、传动组件、转动组件、顶出组件和测试组件，转动组件包括转动杆及转动块，测试组件包括探针装置及承载装置，且探针装置固定设于主体上，当芯片测试完成后，承载装置向探针装置的一侧远离，传动组件转动驱动转动杆转动，使转动块与滚动件相抵，板体下压至预设距离，顶针将芯片顶出。本发明提出的在芯片测试完成后，承载装置会往远离探针装置的方向进行移动，传动组件转动带动转动杆进行转动，从而使转动块挤压第一表面的滚动件，顶针将粘于探针装置的芯片顶出，极大程度地提高了测试效率，且能够实现大量芯片的自动化测试。