一种芯片SLT测试装置与系统

本申请提供了一种芯片SLT测试装置与系统，涉及芯片测试技术领域。该芯片SLT测试装置包括测试机台和多个测试单板，测试机台与多个测试单板连接；每个测试单板上均放置待测芯片，测试机台用于对多个测试单板上的待测芯片进行SLT测试；每个测试单板均包括数据存储模块和编码调节模块，数据存储模块与编码调节模块连接；编码调节模块用于设置测试单板的编码信息，并将编码信息发送至数据存储模块，测试机台通过多个数据存储模块获取多个测试单板的编码信息；其中，每个测试单板的编码信息均不同。通过编码调节模块对测试单板进行编码，确保在SLT测试出现错误时，测试机台能够快速定位到故障测试单板，从而极大地提高了芯片SLT测试效率。