电子器件缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质

本发明实施例公开了电子器件缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质。自动光学检测场景中，在确认待检测器件为限定安装方向的电子器件的情况下，将待检测器件的待测器件图像和对应的标准器件图像，分别通过预先训练的方向特征提取模型，提取用于描述对应各个限定安装方向的图像特征，根据二者对应识别出的图像特征的相似度，确认待测器件图像和标准器件图像中的电子器件的安装方向是否一致，进而完成关于安装方向的缺陷检测。在有参考的标准器件图像的情况下，快速完成关于安装方向的缺陷检测，对有极性电子器件的检测通用性好，明显提升了实现对各种有极性电子器件进行检测的鲁棒性。