一种IGBT器件的制作方法及IGBT器件

AITNT
正文
推荐专利
一种IGBT器件的制作方法及IGBT器件
申请号:CN202410989650
申请日期:2024-07-23
公开号:CN118899219A
公开日期:2024-11-05
类型:发明专利
摘要
一种IGBT器件的制作方法及IGBT器件,属于半导体芯片制造工艺技术领域。本发明解决了器件的di/dt能力受到了极大的限制的问题。技术要点:在N型漂移区的沟槽内制作栅极氧化层;采用化学气相沉积工艺,在N型漂移区上表面及栅极氧化层的表面沉积饱和掺杂多晶硅,在饱和掺杂多晶硅上沉积金属,在金属层上沉积第二饱和掺杂多晶硅层,将沟槽内部完全填满;多晶硅及金属层的回刻,形成底层多晶硅栅极+金属栅极+顶层多晶硅栅极;制作背面金属集电极、背面P+集电极、器件体区、器件发射极、介质层和正面金属发射极,完成器件结构制作。本发明大幅提升了器件对栅极电压的响应,进而提升了器件的开关速度,提升了di/dt能力。
技术关键词
IGBT器件 多晶硅栅极 掺杂多晶硅层 气相沉积工艺 制作栅极 金属栅极 器件结构 沟槽 氧化层 上沉积 半导体芯片 正面 介质 合金 元素 开关 电压
系统为您推荐了相关专利信息
1
基于导热-隔热复合层微流控芯片温控系统及方法
隔热复合层 导热 温度分布图像 温控方法 微流道结构
2
半导体结构及半导体结构的制备方法
半导体结构 氮化硅层 氧化层 多晶硅 衬底
3
IGBT器件用的半埋式陶瓷覆铜载板及制造方法和组装产品
蚀刻 过渡结构 应力 陶瓷 安装槽
4
基于PNP三级管的IGBT器件及其制备方法
封装框架 三极管 IGBT芯片表面 IGBT器件 晶圆
5
提高器件耐击穿能力的方法
场限环结构 版图 沟槽结构 衬底 IGBT器件
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号