摘要
一种IGBT器件的制作方法及IGBT器件,属于半导体芯片制造工艺技术领域。本发明解决了器件的di/dt能力受到了极大的限制的问题。技术要点:在N型漂移区的沟槽内制作栅极氧化层;采用化学气相沉积工艺,在N型漂移区上表面及栅极氧化层的表面沉积饱和掺杂多晶硅,在饱和掺杂多晶硅上沉积金属,在金属层上沉积第二饱和掺杂多晶硅层,将沟槽内部完全填满;多晶硅及金属层的回刻,形成底层多晶硅栅极+金属栅极+顶层多晶硅栅极;制作背面金属集电极、背面P+集电极、器件体区、器件发射极、介质层和正面金属发射极,完成器件结构制作。本发明大幅提升了器件对栅极电压的响应,进而提升了器件的开关速度,提升了di/dt能力。
技术关键词
IGBT器件
多晶硅栅极
掺杂多晶硅层
气相沉积工艺
制作栅极
金属栅极
器件结构
沟槽
氧化层
上沉积
半导体芯片
正面
介质
合金
元素
开关
电压
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