集成场效应晶体管及其制造方法

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集成场效应晶体管及其制造方法
申请号:CN202411070212
申请日期:2024-08-06
公开号:CN119069473A
公开日期:2024-12-03
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种集成场效应晶体管及其制造方法,集成场效应晶体管包括外延层和本体层,本体层由外延层的第一表面延伸至外延层内,本体层包括本体结构区及设于本体结构区内的第二导电结构区、两个第一导电结构区和至少一个与外延层相连接的延伸结构区,两个第一导电结构区沿第一方向设于第二导电结构区的两侧,第二导电结构区环绕延伸结构区周侧设置,外延层的第一表面设置有肖特基接触层,肖特基接触层的至少部分覆盖于延伸结构区。本申请的集成场效应晶体管及其制造方法,能够平衡场效应晶体管器件的反偏导通压降和芯片成本,以符合电子器件的实际使用需求。
技术关键词
集成场效应晶体管 导电结构 欧姆接触层 肖特基 外延 栅氧化层 基底层 场效应晶体管器件 栅极 电子器件 层叠 芯片 关系
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