一种调试方法、系统及存储介质

本申请提供一种调试方法、系统及存储介质，应用于计算机技术领域，该方法应用于包括调试设备和待测芯片的测试系统，待测芯片包括第一处理器、第二处理器、输入输出处理器以及外设控制器；输入输出处理器作为第二处理器与外设控制器交互时的中间媒介，且第一处理器具有直接访问外设控制器的权限；输入输出处理器包括专用的处理器核，处理器核外接第一调试接口，第一处理器外接第二调试接口，调试设备通过第一调试接口调试处理器核，和/或，通过第二调试接口访问第一处理器，以使第一处理器调试外设控制器，本方法能够调试SoC内部的输入输出处理器以及外设控制器，能够通过输入输出处理器控制外部设备，满足实际应用需求。