一种可同时测试多个待测芯片的测试装置

本申请提供一种可同时测试多个待测芯片的测试装置，涉及芯片测试领域。可同时测试多个待测芯片的测试装置包括：流水线传输机构、检测和测试机构、抓握定位转运机构、检测和测试传送机构和测试转运机构。所述测试转运机构将吸附起待测芯片进行精准定位，其后通过所述测试转运机构将待测芯片转运至所述检测和测试机构上进行测试。该可同时测试多个待测芯片的测试装置通过抓握定位转运机构下端如手指抓握搬握拢，进行待测芯片的预先定位，改善待测芯片偏差过大，不便于后续传送和调整的问题，再通过测试转运机构将待测芯片吸附起进行精准定位，便于将芯片精准的转移至芯片测试座上进行芯片测试工作。