谐振器的低温环境测试系统和方法

本申请提供一种谐振器的低温环境测试系统和方法，涉及谐振器特性测试技术领域。所述系统包括驱动电路、制冷平台以及温控板；驱动电路，与待测试谐振器连接，用于为待测试谐振器提供输入信号以驱动待测试谐振器；制冷平台，用于放置待测试谐振器和驱动电路，使待测试谐振器处于目标测试温度下；温控板，与控制平台制冷平台连接，用于获取制冷平台的实时温度，并控制制冷平台的实时温度为目标测试温度。通过将待测试谐振器与驱动电路均放置在制冷平台的低温环境中，缩短谐振器与驱动电路之间的距离，降低其他因素干扰，提高谐振器测试结果的准确性。