一种低金属腐蚀的芯片CMP后清洗液、其制备方法与应用

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一种低金属腐蚀的芯片CMP后清洗液、其制备方法与应用
申请号:CN202411089302
申请日期:2024-08-09
公开号:CN119020119A
公开日期:2024-11-26
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种低金属腐蚀的芯片CMP后清洗液、其制备方法与应用,所述低金属腐蚀的芯片CMP后清洗液包括重量配比如下的各组分:氨基化合物15‑30份;螯合剂10‑30份;pH调节剂0.001‑5份;超纯水70‑95份。所述低金属腐蚀的芯片CMP后清洗液为酸性。本发明还公开了所述低金属腐蚀的芯片CMP后清洗液的制备方法及应用。本发明低金属腐蚀的芯片CMP后清洗液用于半导体芯片的清洗,能在保持清洗效果的同时,改善对Cu的腐蚀抑制效果。
技术关键词
清洗液 清洗半导体芯片 氨基化合物 超纯水 螯合剂 调节剂 落叶松 衣康酸
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