一种纳米级硅通孔三维集成结构及其制备方法、电子设备

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一种纳米级硅通孔三维集成结构及其制备方法、电子设备
申请号:CN202411100922
申请日期:2024-08-12
公开号:CN119028907A
公开日期:2024-11-26
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种纳米级硅通孔三维集成结构及其制备方法、电子设备,涉及半导体技术领域,提供衬底,在衬底的一侧形成第一键合层,并在其背离衬底的一侧形成第一硅基晶圆,对第一硅基晶圆进行刻蚀处理,形成多个贯穿第一硅基晶圆的第一硅通孔,并填充第一金属;在第一硅基晶圆背离衬底的一侧形成第二键合层,并在其背离第一硅基晶圆的一侧形成第二硅基晶圆,并对其进行刻蚀处理,形成多个贯通第二硅基晶圆的第二硅通孔,并填充第二金属得到纳米级硅通孔三维集成结构。通过上述方法可以实现纳米级硅通孔三维集成结构的制备,还为实现高密度、小型化、多功能集成提供了可能,满足了现代电子产品不断增长的需求。
技术关键词
三维集成结构 导电结构 纳米级 衬底 通孔 纳米硅 感应耦合等离子体 电子设备 绝缘 机械抛光 气相 电子产品 高密度 凹槽 低压 芯片
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