一种PM芯片检测电路

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一种PM芯片检测电路
申请号:CN202411119720
申请日期:2024-08-14
公开号:CN118795317A
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了芯片测试技术领域的一种PM芯片检测电路,包括PM芯片及PM芯片的电极1、电极2、电极3和电极4,还包括第一处理电路和第二处理电路;开关电路,用于控制供电电压通过第一处理电路或者第二处理电路;单片机,用于控制开关电路,并根据第一处理电路或者第二处理电路的对应采样电压计算电极1和电极4之间的阻值、电极2和电极3之间的阻值或者电极1和电极3之间的阻值;能够进行短路、断路、阻值性能自动批量检测,提高了检测效率、减少了人工误差;电路低成本、电路原理巧妙,功能可靠,操作简单智能。
技术关键词
芯片检测电路 场效应管 电极 运算放大器 电路供电电压 单片机 采样器 芯片检测方法 控制开关电路 采样电阻 芯片检测系统 芯片测试技术 检测夹具 电容 多工位
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