一种改善RFID电子标签芯片热载流子的方法

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一种改善RFID电子标签芯片热载流子的方法
申请号:CN202411901561
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119730397A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种改善RFID电子标签芯片热载流子的方法,涉及RFID标签芯片领域,该方法包括基于刻蚀工艺和湿法氧化方式,在衬底表面形成场氧;在场氧与衬底之间形成保护环;将杂质离子注入保护环内,形成保护环结构;在阱表面形成RFID电子标签芯片的场效应晶体管初步结构;在衬底表面淀积绝缘层,并使场效应晶体管初步结构和保护环结构从绝缘层中露出;填充效应晶体管初步结构和保护环结构中的接触孔,并在接触孔外形成金属层,得到RFID电子标签芯片的场效应晶体管结构;对场效应晶体管结构进行退火处理。本发明有效阻挡热载流子大量注入栅氧化层以及衬底,降低热载流子对芯片的持续损坏,提高芯片的使用寿命。
技术关键词
保护环结构 场效应晶体管结构 衬底 接触孔 填充浅沟槽隔离 栅极结构 RFID标签芯片 离子 电子标签芯片 淀积 欧姆接触电极 干法刻蚀工艺 P型杂质 氧化层 多晶硅
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