高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法

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高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法
申请号:CN202411136929
申请日期:2024-08-19
公开号:CN119208367A
公开日期:2024-12-27
类型:发明专利
摘要
本公开公开了一种高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法,属于半导体光电技术领域。高电子迁移率晶体管芯片包括源极、漏极和外延层;外延层包括依次层叠的沟道层、势垒层与盖帽层,外延层还包括接触槽,接触槽的槽口位于盖帽层,且接触槽的槽底延伸至沟道层,接触槽内具有N型重掺杂GaN层,N型重掺杂GaN层覆盖在接触槽的内壁;源极和漏极分别位于对应的接触槽内且与N型重掺杂GaN层电性连接。本公开实施例能够降低欧姆接触电阻。
技术关键词
GaN层 盖帽层 电子迁移率晶体管 势垒层 应力释放层 外延 半导体光电技术 芯片 缓冲层 欧姆接触电阻 层叠 刻蚀气体 介质 周期性 氦气 掩膜 氮气
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