基于微光亚像元错位采样的成像系统及方法

本发明公开了一种基于微光亚像元错位采样的成像系统及方法，用于解决现有的像增强型ICCD或ICMOS相机采样时易因欠采样导致图像分辨率退化的技术问题。该成像系统包括采样单元、转台及上位机；其中，采光单元中的TDI‑ICMOS相机是由像增强器与TDI‑CMOS探测器耦合而成，TDI‑CMOS探测器内部设有n行平行分布的感光通道，相邻两行感光通道在行方向上依次错位个像素，在TDI推扫方向上依次间隔个像素；转台用于安装相机，上位机对图像进行融合增强。本发明的TDI‑ICMOS相机只需要在转台的配合下利用推扫成像模式，就可以获得n幅具有亚像素相对位移的微光推扫图像，从而为融合增强提升信噪比与MTF奠定了基础。