摘要
本发明公开了一种半导体材料及器件的制备方法,包括准备两块衬底,分别为衬底W1和衬底W2,剥离衬底W2的上面一部分与衬底W1上生长的多晶Si C面110进行键合,形成在W1上有多晶SiC层和在其上的高质量单晶S iC层,再外延高质量的S iC层形成复合外延材料。在复合外延材料上进行芯片工艺加工完成芯片制造,可以有效减少在SiC材料、器件制备过程中SiC材料的损耗和浪费,提高生产效率,有利于大幅降低器件的成本。
技术关键词
半导体材料
SiC薄膜
外延
复合衬底
高质量单晶
支撑材料
淀积金属
激光剥离工艺
刻蚀多晶硅
多晶硅表面
层间介质层
栅介质层
基板材料
芯片
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栅极
低电阻
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