一种半导体材料及器件的制备方法

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一种半导体材料及器件的制备方法
申请号:CN202411490432
申请日期:2024-10-24
公开号:CN119400756A
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种半导体材料及器件的制备方法,包括准备两块衬底,分别为衬底W1和衬底W2,剥离衬底W2的上面一部分与衬底W1上生长的多晶Si C面110进行键合,形成在W1上有多晶SiC层和在其上的高质量单晶S iC层,再外延高质量的S iC层形成复合外延材料。在复合外延材料上进行芯片工艺加工完成芯片制造,可以有效减少在SiC材料、器件制备过程中SiC材料的损耗和浪费,提高生产效率,有利于大幅降低器件的成本。
技术关键词
半导体材料 SiC薄膜 外延 复合衬底 高质量单晶 支撑材料 淀积金属 激光剥离工艺 刻蚀多晶硅 多晶硅表面 层间介质层 栅介质层 基板材料 芯片 抛光 栅极 低电阻
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