一种芯片表面缺陷检测方法

本发明提供一种芯片表面缺陷检测方法，包括对芯片进行定位得到待检测区域，对待检测区域进行裁剪得到待检测图像；终端获取图像路径，向外观缺陷检测系统发出检测请求；将图像批量作为输入量输入至芯片外观缺陷检测系统，开启多线程检测，对一张图像进行完整检测为一个线程，同时处理多张图像；将得到的结果返回终端并可视化。本发明解决了现有的芯片缺陷检测方法造价过高、不稳定、效率低的问题。