一种CIS芯片测试的系统

本发明公开一种CIS芯片测试的系统，目的在于寻找更为有效的CIS芯片测试的实现方案，其包括待测芯片模块、继电器控制切换模块、MIPI测试盒、图像处理终端、ATE测试机、用于CIS芯片测试控制的测试主控单元；MIPI测试盒与继电器控制切换模块通过第二高速连接器电性连接；ATE测试机与继电器控制切换模块通过普通连接器电性连接；图像处理终端与测试主控单元电性连接；ATE测试机与测试主控单元通过光纤连接。本发明通过引入继电器控制切换模块、MIPI测试盒、ATE测试机以及高速连接器等，不仅能够满足CIS芯片测试对于高速测试的需求，还能够有效实现自动化和智能化测试。