芯片测试方法、设备及存储器芯片

本公开实施例公开了一种芯片测试方法、设备及存储器芯片。芯片测试方法包括：进入压缩读写测试模式，通过待测芯片的测试焊盘向第一目标地址选中的存储单元写入测试数据；进入正常读写测试模式，在待测芯片内部，将测试数据通过数据焊盘进行预设次数的内部循环读写；进入压缩读写测试模式，从待测芯片的测试焊盘读取测试数据；如果向待测芯片写入的测试数据与从待测芯片读取的测试数据一致，则判断待测芯片的电路功能正常。