一种用于电子元器件加工生产的稳定性测试装置

本发明涉及电子元器件测试技术领域，具体为一种用于电子元器件加工生产的稳定性测试装置，包括箱体以及滑动设置在箱体上的移动板，还包括：驱动组件，与移动板连接，用于驱动移动板移动；放置板，设置于移动板上，用于放置待测芯片；清理机构，设置在所述移动板上，通过设置有清理机构，移动板与空腔柱向箱体内部移动，可实现活塞板挤压排气腔内的气体，气体最终从出风扁管喷出，有效清除待测芯片表面的灰尘，与此同时，活塞板的移动使得进气腔形成负压，被吹起的灰尘气体经进气头最终进入环形腔板二，通过过滤环板高效过滤后，再由进气管流回进气腔，吹气清理与吸气除尘同步进行的方式，减少了灰尘在测试区域的飞扬。