一种集成电路芯片测试设备

本发明属于芯片测试技术领域，具体的说是一种集成电路芯片测试设备，包括机体、测试部和转运部，测试部安装在机体上，测试部包括外观测试组件和电性能测试组件，转运部用于运输芯片依次经过外观测试组件和电性能测试组件，对其的外观与电性能进行检测，转运部包括：转动安装在机体上的一号圆环；若干环形阵列安装在一号圆环上的放置组件，放置组件包括：安装在一号圆环上的连接板；活动安装在连接板上的固定板，固定板用于固定芯片；通过设置放置组件，改善了外观测试系统无法检测出，在外观测试合格后，转移至进行电性能测试的时候，受引脚与电性能测试组件之间摩擦力的作用，引脚与芯片分离，引脚留在电性能测试组件换上的问题。