自动检测装置、系统及检测方法

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自动检测装置、系统及检测方法
申请号:CN202411609654
申请日期:2024-11-12
公开号:CN119471457A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种自动检测装置、系统及检测方法,其包括电源检测模块、开机信号检测模块以及功能信号检测模块;所述电源检测模块与待测芯片的电源引脚连接,用于检测所述待测芯片的电源引脚是否正常;所述开机信号检测模块与所述待测芯片的开机信号引脚连接,用于检测所述待测芯片的开机信号引脚是否正常;所述功能信号检测模块与所述待测芯片的功能信号引脚连接,用于检测所述待测芯片的功能信号引脚是否正常。本发明可以对待测芯片进行检测,并当待测芯片存在问题时,快速定位至问题点,提高了生产效率和降低了维护成本。
技术关键词
待测芯片 自动检测装置 电源检测电路 电源检测模块 指示电路 开关电路 发光二极管 自动检测系统 信号 开关管 输出端 电压
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代码覆盖率的处理方法、电子设备和介质
对象 待测芯片 计算机可执行指令 代码覆盖率分析 脚本
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基于Jenkins的芯片回归测试方法、电子设备和介质
回归测试方法 标识 待测芯片 计算机可执行指令 代码管理系统
3
测试数据的压缩方法、压缩装置、计算机可读存储介质及电子设备
向量存储器 待测芯片 压缩装置 数据存储单元 可读存储介质
4
一种芯片检测装置及方法
待测芯片 芯片检测装置 检测芯片 控制模块 信号
5
芯片测试装置及系统
芯片测试装置 光敏电阻 拾取单元 测距传感器 测试座
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沪ICP备2023015588号