基于多重曝光技术的动态目标位姿测量方法

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基于多重曝光技术的动态目标位姿测量方法
申请号:CN202411614928
申请日期:2024-11-13
公开号:CN119131145B
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种基于多重曝光技术的动态目标位姿测量方法,首先将合作标志器设置在目标物体上,确定目标物体上的特征点;获取目标物体在两个连续时刻下的特征点坐标组,进而计算出特征点变化速度;继续获取目标物体在下一时刻下的测量图像组;以此时刻下的测量图像组中的第一张图像为基准,结合特征点变化速度对第一张图像中的特征点坐标进行补偿,从而得到补偿后的特征点图像坐标集合;最后结合的特征点图像坐标集合,计算得到目标物体的位姿。本发明通过连续采集的多幅图像进行目标特征检测,同时对特征点进行补偿,提高位姿解算准确性,降低目标运动导致的多幅图像间特征不对齐对精度的影响。
技术关键词
特征点 位姿测量方法 曝光技术 坐标 物体 标志器 速度 投影模型 图像处理技术 动态 基准 运动 相机 成像 元素 精度
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