一种便于分拣的芯片FT测试设备

本发明公开了一种便于分拣的芯片FT测试设备，涉及芯片测试技术领域，包括FT测试设备本体以及设置在FT测试设备本体上的芯片测试座，芯片测试座可自动开合，FT测试设备本体上固定连接有立板，立板朝向芯片测试座的一侧设置有等腰三角形的吸附驱动机构，吸附驱动机构外侧面传动设置有皮带，位于皮带的下端中部设置有真空吸附组件；吸附驱动机构能够带动皮带正反向传动、且能够带动真空吸附组件向下移动，使得吸附驱动机构形变为五边形。本发明，通过对吸附驱动机构的设置，当其形变为五边形时，用于对芯片的吸附，恢复为等腰三角形时，用于对芯片的分拣，从而将芯片的吸附和分拣于一体，更加便捷。