一种芯片测试座的压力检测装置及检测方法

本发明涉及芯片测试设备技术领域，具体涉及一种芯片测试座的压力检测装置及检测方法，压力检测装置包括检测基座、芯片测试座、固定单元和设置在检测基座顶部的控制单元，所述芯片测试座限位框内设置有检测组件；固定单元包括支撑架和相对设置在支撑架上的固定组件，固定组件用于夹持所述芯片测试座，支撑架中部镶嵌有替换板；替换板上设有与检测组件电性连接的导电单元，导电单元包括同轴设置的绝缘筒体和导电体，导电体滑动套设在绝缘筒体内、且外侧设有复位组件；所述导电体上端与芯片测试座引脚相接触，下端贯穿绝缘筒体与所述控制单元电性连接。本发明能够对翻盖机构对芯片所提供的压力进行检测，便于用户调整翻盖机构提供的压力。