一种缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法及训练系统

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一种缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法及训练系统
申请号:CN202411658171
申请日期:2024-11-20
公开号:CN119169006B
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法及训练系统,其中,训练方法包括:通过至少一个站点的拍摄装置采集光学零部件的第一训练图像以及获取无缺陷图像检测模型;其中,至少一个站点的拍摄装置所对应的拍摄参数根据光学零部件的结构特征和缺陷分布而设计;无缺陷图像检测模型基于光学零部件无缺陷的第二训练图像训练得到;利用无缺陷图像检测模型对第一训练图像进行检测,获得第一检测结果;在第一检测结果表征为存在缺陷的情况下,将对应的第一训练图像作为负样本;基于负样本对无缺陷图像检测模型进行训练更新,获得缺陷检测模型。本发明提升了负样本的质量,节省了计算资源,缩短了训练时间,提升了训练效率。
技术关键词
图像检测模型 光学零部件 拍摄装置 站点 样本 缺陷检测方法 训练设备 缺陷位置信息 训练系统 物料传递设备 云服务器通信 节点 标签 参数 照明设备 污点 脏污
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