微小缺陷的检测方法

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微小缺陷的检测方法
申请号:CN202411725309
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119831930B
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明属于智能制造技术领域,公开了一种微小缺陷的检测方法,该方法包括:获取标准工件的图片,找到标准工件的微孔位置,截取微孔图片进行二值化处理,生成标准微孔二值化模板;获取待检微孔工件的图片,进行二值化处理,生成待检微孔二值化图片;将待检微孔二值化图片分为若干个图像块,裁剪掉待检微孔二值化图片的不必要信息,使用神经网络模型对裁剪后的图像进行预测,得到缺陷类别和位置信息;根据缺陷类别和位置信息,识别待检工件是否满足生产标准。本发明克服了微小缺陷检测准确率与检测速度难以兼顾的问题。
技术关键词
图片 缺陷类别 积层 神经网络模型 分辨率 二值化算法 模块 工件 注意力机制 滑动窗口 标签文件 模板 图像块 检测头 上采样 数值 像素点
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