异构芯片之间的精度校准方法、装置、电子设备和介质

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异构芯片之间的精度校准方法、装置、电子设备和介质
申请号:CN202411733843
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119739581A
公开日期:2025-04-01
类型:发明专利
摘要
本公开涉及一种异构芯片之间的精度校准方法、装置、电子设备和介质,应用于精度校准系统,所述精度校准系统包括多个异构芯片,所述方法包括:向每个所述异构芯片分别发送精度测试指令,所述精度测试指令用于指示每个所述异构芯片运行目标模型;接收每个所述异构芯片发送的针对所述目标模型的运算结果,并将所述运算结果与标准运算结果进行比较,得到精度检测报告,所述精度检测报告包括每个所述异构芯片的精度误差信息;基于所述精度检测报告对多个所述异构芯片的计算精度进行校准。本公开通过利用生成的精度检测报告能够准确对各异构芯片的运算精度进行调整,如此能够保证模型训练的准确性。
技术关键词
精度校准方法 异构 精度校准系统 芯片 报告 误差信息 精度校准装置 指令 电子设备 计算机程序产品 处理器 可读存储介质 存储器 策略 标记 模块
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