一种温度传感器芯片的封装工艺

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一种温度传感器芯片的封装工艺
申请号:CN202411808739
申请日期:2024-12-10
公开号:CN119650445B
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
一种温度传感器芯片的封装工艺,包括如下步骤:选择氮化铝陶瓷基片,并根据芯片的尺寸大小来选定对应尺寸的金锡焊料片;氮化铝陶瓷基片清洗;制作氮化铝陶瓷基片的双面金属化层;把沉积完金属化层的氮化铝陶瓷基片按芯片的大小进行划切,然后将金属管壳摆放到烧结模具上,再在金属管壳上放置金锡焊料片,在金锡焊料片上放置切好的所述氮化铝陶瓷基片,在氮化铝陶瓷基片上再次放置金锡焊料片,最后放置芯片;并将其一起放到共晶焊炉内进行烧结;选用可编程真空共晶焊炉进行共晶烧结,焊接完成后等温度降到70℃以下,打开腔室门,取出器件。有益效果是:不仅感温性能高、绝缘效果好,而且工艺合理,操作简单,生产效率高,适合工业化生产。
技术关键词
氮化铝陶瓷基片 温度传感器芯片 封装工艺 共晶 焊料 烧结模具 金属管 磁控溅射台 双面金属化 氧气流量计 甲酸 复合膜 还原气体 氩气流量 抽真空 管壳 恒温
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