一种掉电存储介质的故障处理与使用寿命延长方法及系统

本发明涉及一种掉电存储介质的故障处理与使用寿命延长方法，包括：将运算逻辑数据结构初始化；读取整个ID区并从尾部开始查询ID标识码；基于查询到的ID标识码读取对应数据区存储的单帧数据并校验，校验成功则赋值工作参数，且对掉电存储介质所有扇区的ID区依序轮询，以定位掉电前所使用扇区；将工作参数数据区和对比区的数据存在差异时触发写入流程，单扇区内循环写入操作，直至单扇区擦写寿命达预设判定条件后切换至下一扇区使用；设置重写次数阈值，在单扇区写入后进行数据读写，若数据区读写失败后进入电压检测判断，用以判定此扇区是否故障。本发明具有合理的容错判断，可以延长掉电介质额定使用寿命。