光子计数探测器芯片的性能检测方法及性能检测装置

本申请涉及一种光子计数探测器芯片的性能检测方法及性能检测装置，涉及光子计数探测器技术领域。所述方法包括：向光子计数探测器芯片的多个信号输入端输入相同的模拟电流信号；获取光子计数探测器芯片根据模拟电流信号生成的检测信号；基于多个检测信号确定光子计数探测器芯片的性能。由于本申请是直接向光子计数探测器芯片的多个信号输入端输入模拟电流信号的，排除了光子计数探测器探测介质的影响，相较于直接利用X射线对光子计数探测器进行检测的技术方案，提高了对光子计数探测器芯片的性能检测精度。