一种芯片测试系统和测试方法

本申请属于芯片测试技术领域，提供一种芯片测试系统和测试方法，所述芯片测试系统包括上位机、ATE测试设备和SLT测试设备；所述ATE测试设备与平移机械手配合，以完成对待测芯片的自动测试；所述SLT测试设备包括SAP组件、SLT测试板、可升降支撑机构、以及SLT测试机台；所述SLT测试板为根据所述平移机械手的结构特征进行限制布局的PCB板，所述限制布局至少包括所述SAP组件相对于所述SLT测试板的限制布局；本申请的SLT测试设备能够在芯片SLT测试中直接使用自动测试设备ATE设备的平移式机械手，不需要在耗费额外的成本去购买STL专业机械手设备，为相关人员节约了成本，避免设备采购带来的成本增加。